溫度范圍零下180~550℃
變溫速度0~10℃/min,升降溫線性可控
溫度分辨率及穩定性± 0.1℃
控溫方式PID
溫度傳感器PT100
溫度傳感器數量2
致冷方式液氮(泵控制)
探針數量4(可增加)
探針材質紫銅鍍金
測試通道4
載樣臺材質及尺寸銀質,35*35mm(以實際尺寸為準)
冷熱臺尺寸160*150*29mm(以實際尺寸為準)
實驗環境可抽真空,可充入保護氣氛(氮氣),配水冷接口
同軸真空饋通件是一種用于連接同軸電纜和真空腔體的特殊組件,廣泛應用于微波、射頻和粒子加速器等領域。其主要作用是通過真空環境將射頻信號有效地傳輸到真空腔內,并且保持真空系統的完整性。
同軸真空饋通件通常由導電材料制造,具備良好的電氣性能和機械強度,以確保在信號傳輸過程中的低損耗和穩定性。該設備的設計需要考慮以下幾個方面:
1. **頻率特性**:饋通件的設計需要滿足特定的工作頻率范圍,確保信號的有效傳輸。
2. **真空密封性**:為了保持系統的真空狀態,饋通件必須具有良好的密封性能,常見的密封方式包括O型圈密封和焊接等。
3. **熱管理**:在高功率應用中,饋通件可能會產生熱量,需要進行適當的熱管理設計,以防止過熱導致性能下降或損壞。
4. **材料選擇**:通常使用高導電性材料(如銅或鋁)制造導電部分,而外殼可能使用不銹鋼等耐腐蝕材料,以適應不同的應用環境。
同軸真空饋通件在無線通信、系統、粒子物理實驗等領域有著廣泛的應用,是實現信號傳輸的重要組成部分。
探針夾具是一種用于電子測試和信號測量的設備,它的主要功能包括:
1. **信號接觸**:探針夾具可以地與電路板上的測試點接觸,從而獲取信號或電源。這對于電路功能測試和調試至關重要。
2. **高精度定位**:探針夾具通常具有高精度的定位功能,可以確保探針準確接觸到*的測試點,提高測試的可靠性和準確性。
3. **自動化測試**:隨著自動化測試技術的發展,探針夾具常常與自動測試設備(ATE)配合使用,實現的自動化測試,提高測試效率和一致性。
4. **適應性強**:探針夾具通常設計為可以適應不同規格的PCB(印刷電路板),支持多種類型的測試點,如焊盤、引腳等。
5. **減少干擾**:良好的探針夾具設計可以減少在測試過程中可能引入的干擾,提高測量的準確性。
6. **多通道測試**:一些的探針夾具可以支持多通道同時測試,提高測試的效率,特別是在批量生產測試中具有明顯的優勢。
總的來說,探針夾具在電子產品的研發、測試和生產過程中起到了重要的作用,能夠有效提高測試的效率和準確性。

同軸真空饋通件是一種用于電子設備的連接器,主要用于在真空環境中傳輸信號。其特點包括:
1. **優良的信號傳輸性能**:同軸結構能夠有效地減少信號的損耗和反射,保證信號的質量。
2. **良好的屏蔽性能**:同軸設計可提供較好的電磁干擾屏蔽,防止外部干擾信號影響傳輸質量。
3. **耐高真空特性**:專門設計用于在真空環境中工作,不易受到氣體和水分的影響,適用于真空設備,如粒子加速器和真空腔等。
4. **高功率承受能力**:能夠承受較高的功率水平,適合用于高功率射頻應用。
5. **機械穩定性**:結構堅固,能夠經受一定的機械應力和溫度變化。
6. **便于安裝和維護**:設計通常考慮到易于安裝和維護,便于與其他設備連接。
7. **多種接口類型**:可根據需要提供不同類型的連接器接口,以適應應用場景。
以上這些特點使得同軸真空饋通件在通信、射頻設備及實驗物理等領域具有廣泛的應用前景。

探針座位移平臺是一種用于精密測試和測量的設備,常用于半導體、光電子和精密制造等領域。其主要特點包括:
1. **高精度**:探針座位移平臺能夠在微米甚至納米級別進行高精度的位置控制,以確保測量的準確性。
2. **多軸運動**:許多探針座位移平臺設計為多軸系統,能夠實現X、Y、Z三個維度的立移動,以適應復雜的測量需求。
3. **穩定性**:平臺結構通常經過優化設計,以提供高度的機械穩定性,減少外部震動對測量結果的影響。
4. **自動化控制**:現代探針座位移平臺通常配備計算機控制系統,支持自動化操作和數據采集,提高工作效率。
5. **兼容性強**:探針座可以與多種探針、傳感器和測量設備相結合,提供靈活的應用方案。
6. **快速響應**:的驅動系統使得平臺能夠快速響應控制指令,實現快速定位和測量。
7. **易于操作**:許多平臺設有用戶友好的界面,使操作人員能夠輕松進行設置和調整。
8. **可調節性**:探針座位移平臺通常允許用戶根據特定需求來調整工作參數,例如探針的接觸力、移動速度等。
這些特點使得探針座位移平臺在電子元器件測試、材料分析和微型裝配等領域得到了廣泛應用。

探針臺卡盤(Probing Station Chuck)在半導體測試和研究中具有重要功能。它的主要功能包括:
1. **樣品固定**:探針臺卡盤能夠穩固地固定待測試的半導體芯片或其他樣本,確保在測試過程中樣品不發生移動。
2. **定位**:通過高精度的微調機制,卡盤可以實現樣品的定位,以便于探針與樣品上的特定點進行接觸。
3. **溫度控制**:一些的探針臺卡盤配備了溫度控制功能,可以在不同的溫度條件下進行測試,以研究溫度對電性能的影響。
4. **電氣連接**:卡盤通常與探針陣列一起工作,通過探針與樣品接觸,實現電氣信號的傳輸,允許測試電性能參數。
5. **兼容性**:探針臺卡盤設計通常具有良好的兼容性,可以與不同類型和尺寸的樣本以及探針頭配合使用。
6. **環境控制**:一些探針臺卡盤具備氣氛控制功能,可以在特定氣氛(如氮氣或真空環境)中進行測試,以降低氧化和其他環境影響。
總的來說,探針臺卡盤在半導體研發和制造過程中扮演著至關重要的角色,它不僅提高了測試的性,還為研究提供了的實驗條件。
探針夾具主要用于電子元件測試和測量,其適用范圍包括:
1. **半導體測試**:用于芯片、集成電路(IC)等電子元器件的電氣特性測試。
2. **電路板測試**:適用于PCB(印刷電路板)的測試,能夠幫助檢測PCB上的連接和功能。
3. **研發和實驗**:在電子產品的研發階段,探針夾具可以用于快速原型測試和實驗驗證。
4. **質量控制**:在生產過程中,探針夾具可用于自動化測試以確保產品質量。
5. **維修與故障排查**:在維修過程中,探針夾具可以用來快速測試疑似故障的元器件。
探針夾具的靈活性和性使其成為電子行業廣泛使用的重要工具。
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