溫度范圍零下180~550℃
變溫速度0~10℃/min,升降溫線性可控
溫度分辨率及穩定性± 0.1℃
控溫方式PID
溫度傳感器PT100
溫度傳感器數量2
致冷方式液氮(泵控制)
探針數量4(可增加)
探針材質紫銅鍍金
測試通道4
載樣臺材質及尺寸銀質,35*35mm(以實際尺寸為準)
冷熱臺尺寸160*150*29mm(以實際尺寸為準)
實驗環境可抽真空,可充入保護氣氛(氮氣),配水冷接口
同軸真空饋通件是一種重要的電子元件,常用于微波和射頻(RF)系統中。它的主要作用是將信號從一個傳輸線(如同軸電纜)傳遞到另一系統,同時保持良好的電氣隔離并防止真空環境中的電氣泄漏。
同軸真空饋通件的設計通常包括以下幾個關鍵要素:
1. **結構**:通常由內導體、外導體和絕緣體構成。在真空環境中工作時,外導體需要具有良好的導電性,而絕緣體則需要能夠承受真空環境和高電壓。
2. **頻率特性**:不同的設計會針對不同的工作頻率進行優化,以確保在所需頻率范圍內具有低的插入損耗和反射損耗。
3. **密封性能**:由于在真空環境中工作,饋通件需要有良好的密封性能,以防止空氣滲入并引起導電性變化或其他不良影響。
4. **材料選擇**:材質通常選用具有良好導電性的金屬材料(如銅或鋁)和適合高真空環境的絕緣材料(如陶瓷或特定的塑料)。
同軸真空饋通件廣泛應用于粒子加速器、真空腔、射頻腔及其他實驗和工業設備中。在實際應用中,設計和制造這樣的饋通件需要考慮到工作環境的特殊要求,以確保其長期穩定的性能。
真空探針臺是一種用于微電子器件測試與研究的精密儀器,其主要功能包括:
1. **電學測試**:能夠對半導體器件進行電性能測試,如IV(電流-電壓)特性測試、CV(電容-電壓)特性測試等。
2. **高真空環境**:提供高真空或真空環境,減少氣體分子對測試結果的干擾,特別是在處理空氣敏感材料或量子特性研究時尤為重要。
3. **微觀定位**:由于其高精度的定位功能,能夠對微小結構進行接觸和掃描,適用于納米尺度設備的測試。
4. **冷熱測試**:部分真空探針臺配備溫控系統,可以在低溫或高溫條件下進行測試,以研究材料和器件在不同溫度下的特性。
5. **材料表征**:能夠對薄膜、納米材料等進行表征,分析其電學性質、表面狀態等。
6. **集成化測試**:可以與其他儀器(如掃描電子顯微鏡、原子力顯微鏡等)聯用,進行更深入的材料或器件分析。
總之,真空探針臺是半導體研究、材料科學等領域中的重要設備。

微型高低溫真空探針臺是一種用于電子材料和器件測試的精密儀器,具備以下幾個主要特點:
1. **高低溫測試能力**:能夠在極低溫(如液氮溫度)到高溫(如400°C以上)范圍內進行測試,適用于不同溫度環境下的材料性能研究。
2. **真空環境**:探針臺設計用于在高真空條件下操作,減少氧化和污染,確保測試結果的準確性和重復性。
3. **高精度探測**:配備高精度的探針和測量系統,能夠準確獲取微小電流、電壓等信號,適用于微小尺度器件的電測量。
4. **微型化設計**:體積小巧,便于在有限空間內進行操作,適合于微電子器件、納米材料等研究。
5. **靈活的樣品裝配**:通常具有友好的樣品夾具設計,便于不同類型和尺寸的樣品裝配和更換。
6. **多功能性**:可能支持多種測試模式,如直流測試、交流測試、霍爾效應測試等,適用范圍廣。
7. **易于連接**:可與其他測試設備(如示波器、信號發生器等)快速連接,便于進行綜合測試。
總之,微型高低溫真空探針臺在材料科學、半導體研究和納米技術等領域中具有重要的應用價值。

探針座位移平臺是一種用于電子測試和測量的設備,主要功能包括:
1. **定位**:能夠地移動探針到*的測試點,確保測量的準確性。
2. **多軸控制**:通常具有多個自由度(如X、Y、Z軸),可以在三維空間中靈活移動,以適應不同尺寸和布局的測試樣品。
3. **自動化測試**:支持自動化操作,提高測試效率,減少人為誤差。
4. **掃描功能**:可以進行掃描操作,逐點測量,以獲取樣品的電性能數據。
5. **與測試儀器集成**:可與測試儀器(如示波器、LCR表等)連接,進行綜合測試與數據分析。
6. **數據記錄與分析**:記錄測試過程中的數據,并可進行后續分析,以便于評估樣品性能。
7. **靈活適應性**:可根據不同的測試需求和樣品特性,調整探針的位置和壓力,以確保接觸。
探針座位移平臺在半導體、微電子、材料科學等領域的測試和研究中具有重要的應用價值。

探針臺卡盤(Probing Station Chuck)在半導體測試和研究中具有重要功能。它的主要功能包括:
1. **樣品固定**:探針臺卡盤能夠穩固地固定待測試的半導體芯片或其他樣本,確保在測試過程中樣品不發生移動。
2. **定位**:通過高精度的微調機制,卡盤可以實現樣品的定位,以便于探針與樣品上的特定點進行接觸。
3. **溫度控制**:一些的探針臺卡盤配備了溫度控制功能,可以在不同的溫度條件下進行測試,以研究溫度對電性能的影響。
4. **電氣連接**:卡盤通常與探針陣列一起工作,通過探針與樣品接觸,實現電氣信號的傳輸,允許測試電性能參數。
5. **兼容性**:探針臺卡盤設計通常具有良好的兼容性,可以與不同類型和尺寸的樣本以及探針頭配合使用。
6. **環境控制**:一些探針臺卡盤具備氣氛控制功能,可以在特定氣氛(如氮氣或真空環境)中進行測試,以降低氧化和其他環境影響。
總的來說,探針臺卡盤在半導體研發和制造過程中扮演著至關重要的角色,它不僅提高了測試的性,還為研究提供了的實驗條件。
同軸真空饋通件廣泛應用于許多領域,主要包括:
1. **微波通信**:在衛星通信、無線傳輸等領域中,用于傳輸信號。
2. **射頻功率放大**:在射頻(RF)放大器中,幫助傳輸和采集高功率信號。
3. **天線系統**:在天線和發射器中,用于信號傳輸。
4. **高能物理實驗**:在粒子加速器等實驗設備中,用于傳輸信號。
5. **實驗室設備**:在實驗室中用于設備的連接和信號傳輸。
6. **系統**:用于和民用系統中進行信號傳遞。
7. **設備**:在某些醫學成像和設備中也會用到。
同軸真空饋通件的設計需要考慮頻率范圍、功率處理能力、插入損耗以及物理尺寸等因素,以確保其在特定應用中的性能和可靠性。
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